1419: [蓝桥杯]芯片测试-c语言实现

题目描述

有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。

而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。

表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏。

i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本 身进行测试）。

输出格式

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

输入样例

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

输出样例

1 3

内存限制：256 MB 时间限制：1 S 标准输入输出 题目类型：传统

解题思路

第 j 列是 第 j 块芯片的测试结果. 关键信息好芯片比坏芯片多, 说明如果第 j 块是好芯片, 这一列测试结果为1的数量必定大于n/2. 如果第 j 块是坏芯片, 这一列测试结果为0的数量必定大于n/2, 即测试结果为1的数量小于n/2 .
列遍历数据, 根据测试结果为1的数量是否大于n/2, 判断芯片好坏.

代码

#include <stdio.h>
#include <stdlib.h>

int main() {  
	int n, count;
	int** arr; 
	scanf("%d",&n);
	arr = (int **)malloc(n * sizeof(int*));
	for(int i = 0; i < n; i++) {
		arr[i] = (int *)malloc(n * sizeof(int));
	}
	
	for(int i = 0; i < n; i++) {
		for(int j = 0; j < n; j++) {
			scanf("%d",&arr[i][j]);
		}
	}
	
	for(int j = 0; j < n; j++) {
		count = 0;
		for(int i = 0; i < n; i++) {
			if (arr[i][j] == 1) {
				count++;
			}
		}
		if (count > n/2) {
			printf("%d ", j+1);
		}
	}
	
	for(int i = 0; i < n; i++) {
        free(arr[i]);
    }
    free(arr);

    return 0;  
}

备注

如有任何问题或不足之处，恳请指正。