1.二维光栅图形走样表现有三种：
（1）呈现阶梯状失真

（2）图形的细节失真
一些狭长多边形由于没有覆盖像素中心所以不被绘制，很多细节无法显示

（3）狭小图形遗失以及造成的运动图形的闪烁
一个狭长图形向右运动，当图形覆盖像素中心时，它可以被完整绘制，否则就无法显示，造成图形在运动过程中时隐时现，无法正常显示。

2.反走样技术(分为硬件和软件)
（1）硬件数据：提高分辨率，像素尺寸减小，对硬件要求高，代价较大

（2）软件技术：改进软件算法
加权区域采样：利用人眼视觉特性，通过加权平均的方法，调节像素的亮度等级以产生模糊的边界，包括距离加权反走样、面积加权反走样和体积加权反走样。

wu反走样的算法（距离加权算法）：


削弱锯齿现象的方法：可以为直线周围的像素设置不同的亮度等级，使图形和背景之间存在颜色过度从而削弱锯齿现象。

具体处理方法：
一般的光栅化处理只选择Pu和Pd中的一个像素进行绘制，而wu反走样算法两个像素都要绘制，只是亮度不同。


实现代码：

运行结果：

解释：以上实例并没有达到绘制直线反走样的效果，这是学习资料的参考代码，笔者刚学，暂不知如何完善，可能后期修改。