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标准：

测试前校准（机台相关）：

I Peak电流相关Q＆A：

标准：

在CDM测试中，一般的就关注测试条件电压，例如CDM±250V ±500V，下图Jedec的等级标准：

而在实际测试工程不，不可忽略的有Ipeak电流问题，标准中对于测试的波形有一定的要求，对于第一段的Ipeak，需要满足相应的测试波形；

测试前校准（机台相关）：

在测试前需要进行机台的校准，选用标准的件（两个圆片-理想模拟电容元件）来进行测试条件的校准，如下图所示对应的Ipeak电流，但实际芯片非理想，所以电流只做相应的参考

I Peak电流相关Q＆A：

（1）那测试过程中会发现对应的power pin和IO pin的实际测试结果不同，这个是什么原因呢？

因为不同管脚的防护器件不同，泄放能力及导通速度不同，及低阻抗通路；同时不同pin对应的寄生电感不同，因此导致不同，一般来说power pin的Ipeak电流会大于其他管脚

如小编对芯片进行测试的时候, power pin在10A而IO pin仅8A（CDM500V情况下）

（2）那Ipeak到底越大越好还是越小越好？

这个没有明确定义，这个和芯片尺寸也有很多影响，要更具实际ESD防护电路来看；举例 例如再ESD pass的情况下，那Ipeak电流越大，说明泄放速率越快，低阻抗通路，同时ESD器件没有损坏，这个情况下就说明Ipeak越大就越好

但Ipeak再负向电压测试的时候会造成压降，压降过高会击穿栅氧层，如标准里面所说：