在材料表征中，XRD衍射峰的半峰宽（FWHM）是一个非常关键的参数，常用于晶粒尺寸计算（如Scherrer公式）、结晶度分析等。半峰宽，顾名思义，就是峰高一半位置的宽度。峰越宽表明该材料晶粒越小/缺陷越多，而峰越窄则表示材料结晶性越好。

本期教程我们来学习一下使用Origin计算XRD半峰宽（FWHM）。

1.打开Origin软件，导入数据，其中X轴和Y轴代表为2θ和Intensity。

2.绘制出标准XRD曲线，选中所有数据，点击基础2D图—折线图；

3.绘制出来的图形为如下图所示，由于噪点较多，需要对其进行平滑；

4.点击分析—信号处理—平滑—打开对话框；在跳出的对话框，将窗口的点数改为20；

点击删除原数据图，得到右图，即为XRD平滑后的图形；

5.接着对其进行减去基线，依次点击分析—峰值及基线—峰值分析—打开对话框；

在跳出的对话框，选择减去基线，点击下一步，在基线模式选择用户自定义，取消勾选自动查找，然后点击添加，依次添加基线点，点击完成；

6.减去基线后，回到表格中，选择基线列，同样绘制折线图；

减去的基线如下图所示：

7.点击放大镜，放大需要计算半峰宽的峰，这里以最大峰为例；

8.点击分析—峰值及基线—多峰拟合—打开对话框；

峰函数选择为Gaussian，在跳出的对话框，点击打开NLFit；

9.在跳出的对话框，点击拟合，最后一行即为半峰宽值；

以上就是Origin计算XRD半峰宽的基本步骤；XRD 半峰宽的差异，往往不在数据，而在处理细节。

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